-
- F10-HC-Filmetrics膜厚測量儀
-Filmetrics膜厚測量儀:以F20平臺為基礎(chǔ)所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統(tǒng),能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度,加上F10-HC軟件的模擬演算法的設(shè)計,能夠在厚膜中測量單層與多層(例如:底漆或硬涂層等)。
- 型號:F10-HC
- 更新日期:2023-06-05 ¥面議
-
- F10-AR-Filmetrics膜厚測量儀
Filmetrics膜厚測量儀:F10-AR 是為簡便而經(jīng)濟有效地測試眼科減反涂層設(shè)計的儀器。 雖然價格大大低于當(dāng)今絕大多數(shù)同類儀器,應(yīng)用幾項技術(shù), F10-AR 使線上操作人員經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn),就可以進行厚度測量。
- 型號:F10-AR
- 更新日期:2023-06-05 ¥面議
-
- F3-sX系列Filmetrics薄膜厚度測量儀
Filmetrics薄膜厚度測量儀:F3-sX系列膜厚測量儀利用光譜反射原理,可以測試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度,可測大厚度達3毫米。此類厚膜,相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻,F(xiàn)3-sX系列配置10微米的測試光斑直徑因而可以快速容易的測量其他膜厚測試儀器不能測量的材料膜層。而且僅在幾分之一秒內(nèi)完成。
- 型號:F3-sX系列
- 更新日期:2023-08-25 ¥面議
-
- Film Sense FS-8FS-8單波長橢偏儀
Film Sense FS-1多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器,可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現(xiàn)快速和可 靠地薄膜測量。大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡單的 1 秒測量,就 可以獲得非常精密和的數(shù)據(jù)。
- 型號:Film Sense FS-8
- 更新日期:2025-04-27 ¥面議
-
- F37Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀測厚儀
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀測厚儀 嵌入式在線診斷 免費離線分析軟件 精細的歷史數(shù)據(jù)功能,幫助用戶有效的存儲,重現(xiàn)與繪制測量結(jié)果
- 型號:F37
- 更新日期:2024-08-08 ¥面議
-
- F3-sXFilmetircs 光學(xué)膜厚測量儀
Filmetircs 光學(xué)膜厚測量儀 滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測試系統(tǒng),如需了解更多 光學(xué)膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息,咨詢。
- 型號:F3-sX
- 更新日期:2023-08-25 ¥面議
-
- Filmetrics-F50美國Filmetrics F50 光學(xué)薄膜厚度測量儀
桌面式薄膜測厚儀美國Filmetrics F50 光學(xué)膜厚測量儀自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng) 依靠 F50的光譜測量系統(tǒng),可以很簡單快速地獲得Z大直徑 450 毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。
- 型號:Filmetrics-F50
- 更新日期:2024-08-08 ¥面議
-
- F40Filmetrics 光學(xué)薄膜測厚儀
Filmetrics 光學(xué)薄膜測厚儀 F40 結(jié)合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng) ,精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù),通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析,幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。
- 型號:F40
- 更新日期:2024-08-08 ¥面議